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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2005 | 超薄閘極氧化層形變溫度施壓效應之研究 Investigation of Strain-Temperature Stress on Rapid Thermal Ultra-thin Gate Oxides | Chia-Wei Tung; 董佳衛 | 電子工程學研究所 |
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系所
- 1 電子工程學研究所
關鍵字
- 1 mos
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出版年
- 1 2005
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- 1 有償授權
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