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電子工程學研究所
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2020
分子束磊晶成長鉍薄膜的電特性與熱退火效應
Electrical properties and thermal annealing effect of Bismuth thin film grown by MBE
Yu Xiao; 蕭渝
電子工程學研究所
探索
系所
1
電子工程學研究所
學位
1
碩士
作者
1
yu xiao
關鍵字
1
bismuth
1
bismuth,annealing
1
bismuth,annealing,electron backsc...
1
bismuth,annealing,electron backsc...
1
bismuth,annealing,electron backsc...
1
bismuth,annealing,electron backsc...
1
bismuth,annealing,electron backsc...
1
鉍
1
鉍,熱退火
1
鉍,熱退火,電子背向散射繞射
.
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出版年
1
2020
全文授權
1
未授權
全文
1
true