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符合的文件:
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2020 | 使用累積學習預測生產測試中晶片的最小工作電壓 Minimum Operating Voltage Prediction in Production Test Using Accumulative Learning | Yen-Ting Kuo; 郭彥庭 | 電子工程學研究所 |
2020 | qATG:量子電路測試產生技術 qATG: Automatic Test Generation for Quantum Circuits | Chen-Hung Wu; 吳辰鋐 | 電子工程學研究所 |
2020 | 針對雙軌非同步電路的無時脈內建自測試 Clock-less BIST for Dual-rail Asynchronous Circuits | Tsai-Chieh Chen; 陳采婕 | 電子工程學研究所 |
2020 | 在大量生產晶片中診斷系統性維持時間錯誤 Systematic Hold-time Fault Diagnosis of Production Chips | Chih-Yan Liu; 劉治硯 | 電子工程學研究所 |
2020 | 脈衝神經網路晶片之錯誤模型以及測試 Fault Modeling and Testing of Spiking Neural Network Chips | Yi-Zhan Hsieh; 謝宜展 | 電子工程學研究所 |
探索
系所
- 5 電子工程學研究所
學位
- 5 碩士
關鍵字
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出版年
- 5 2020
全文授權
- 5 有償授權
全文
- 5 true