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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2012 | 分析奈米結構缺陷與穿透式電子顯微鏡檢驗和電性之關聯性 A Correlated Analysis of Defect in Nanostructures with TEM Inspection and Electrical Characterization | Yann-Wen Lan; 藍彥文 | 電子工程學研究所 |
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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2012 | 分析奈米結構缺陷與穿透式電子顯微鏡檢驗和電性之關聯性 A Correlated Analysis of Defect in Nanostructures with TEM Inspection and Electrical Characterization | Yann-Wen Lan; 藍彥文 | 電子工程學研究所 |