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電子工程學研究所
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2010
在金氧半元件中金奈米粒子間氧化層陷阱的研究
Study of Oxide Traps among Gold Nano-Particles in Metal-Oxide-Semiconductor Device
Hong-Cheng Huang; 黃虹彰
電子工程學研究所
2010
藉由矽基板上孔洞陣列內部形貌的調控實現鍺量子點的有序成長
Growth of well-aligned Ge quantum dots by adjusting the inner morphology of nano-hole array on Si substrate
Chien-Hung Lee; 李健鴻
電子工程學研究所
2007
金屬光柵在量子井紅外線光偵測器上的特性
Characteristics of Metallic Grating on Quantum Well Infrared Photodetector
Ching-Hung Lai; 賴景鴻
電子工程學研究所
2005
選擇性摻雜和能障寬度對不同週期的超晶格紅外線偵測器的影響
The effect of the selective doping and barrier width on Superlattice Infrared photodetector with the different period number
Kuei-Chian Huang; 黃逵謙
電子工程學研究所
2008
利用電導-電壓及矽的電激發光量測研究N型鍺量子點金氧半結構之介面缺陷特性
Interface traps of the N-type MOS structure with Ge nanocrystals characterized by G-V measurement and Si electron-luminescence
Ko-Chun Lin; 林可淳
電子工程學研究所
2015
電子束微影之快速顯影技術探討
The Research of Rapid Development Technology in Electron Beam Lithography
Wei-Cheng Rao; 饒偉正
電子工程學研究所
2006
以高介電材質為穿遂層的奈米金粒子金氧半電荷儲存元件
Au Nanocrystal MOS Charge Storage Device By Using High-K Material As Tunneling Layer
Ming-Han Li; 李明翰
電子工程學研究所
2013
調整曝光時間與表面微結構改善光罩上之電子束微影
Adjust the exposure time and apply the surface microstructure to improve the electron beam lithography on the mask
Chao-Chung Ai; 艾兆中
電子工程學研究所
2012
以方形孔洞陣列之介面設計增進金屬/半導體接觸 導電特性
Improving Metal-Semiconductor Contact Conductance with Patterned Interface of Square-Hole Array
Jong-Lih Li; 黎中立
電子工程學研究所
2012
分析奈米結構缺陷與穿透式電子顯微鏡檢驗和電性之關聯性
A Correlated Analysis of Defect in Nanostructures with TEM Inspection and Electrical Characterization
Yann-Wen Lan; 藍彥文
電子工程學研究所
探索
系所
57
電子工程學研究所
學位
44
碩士
13
博士
指導教授
4
chieh-hsiung kuan
作者
2
chien-wei chiu
2
hung-ming chen
2
po-hsun chen
2
邱建維
2
陳宏銘
2
陳柏勳
1
chao-chung ai
1
cheng-huan chung
1
chien-chung chen
1
chien-hsiung hsu
.
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關鍵字
2
grating
2
metallic grating
2
sige device
2
光柵
2
化學能模型
2
準分子雷射
2
矽鍺元件
2
積體電路
2
積體電路,電子束微影
2
積體電路,電子束微影,鄰近效應
.
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出版年
3
2020 - 2023
28
2010 - 2019
26
2005 - 2009
全文授權
39
有償授權
16
未授權
2
同意授權(全球公開)
全文
57
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