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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2015 | 使用新穎辭典並考慮實體資訊之多重缺陷診斷 Multiple Defect Physical-aware Diagnosis using Novel Dictionary | Po-Hao Chen; 陳柏豪 | 電子工程學研究所 |
2020 | 在大量生產晶片中診斷系統性維持時間錯誤 Systematic Hold-time Fault Diagnosis of Production Chips | Chih-Yan Liu; 劉治硯 | 電子工程學研究所 |