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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2008 | 液晶顯示器源極驅動器晶片上升時間以及下降時間測試的可測試性設計 A DfT Technique for Rise Time and Fall Time Testing of LCD Source Driver IC | Chih-He Lin; 林志和 | 電子工程學研究所 |
2008 | 降低測試功率之可測試設計與最小漏電流向量產生技術 A DfT and Minimum Leakage Pattern Generation Technique for Test Power Reduction | Wei-Chung Kao; 高瑋聰 | 電子工程學研究所 |
2008 | 薄膜電晶體液晶顯示器源極驅動IC之輸出偏移電壓可測試設計 A DFT Technique for Output Offset Voltage Testing of TFT-LCD Source Driver IC | Chia-Shao Chen; 陳佳韶 | 電子工程學研究所 |