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電子工程學研究所
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標題
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2008
降低測試功率之可測試設計與最小漏電流向量產生技術
A DfT and Minimum Leakage Pattern Generation Technique for Test Power Reduction
Wei-Chung Kao; 高瑋聰
電子工程學研究所
探索
系所
1
電子工程學研究所
學位
1
碩士
作者
1
高瑋聰
關鍵字
1
dft,testing
1
dft,testing,low power
1
dft,testing,low power,static power
1
dft,testing,low power,static powe...
1
可測試設計
1
可測試設計,測試
1
可測試設計,測試,低功率
1
可測試設計,測試,低功率,靜態功率
1
可測試設計,測試,低功率,靜態功率,漏電流
出版年
1
2008
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