搜尋
新增篩選器:
使用篩選器讓結果更精確。
第 1 到 4 筆結果,共 4 筆。
- 上一個
- 1
- 下一個
符合的文件:
出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2011 | 適用於三維積體電路的溫度感知測試排程與可測試設計之最佳化 Thermal-aware Test Scheduling and TAM Optimization for 3D IC | Chih-Yao Hsu; 許智堯 | 電子工程學研究所 |
2011 | 針對微小延遲缺陷選取緊密的測試向量 Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect | Chia-Yuan Chang; 張家源 | 電子工程學研究所 |
2011 | 考量製程變異、老化效應與撓曲效應之軟性薄膜電晶體電路的直流分析 DC Analysis for Flexible TFT Circuits Considering Process Variation, Aging Effects, and Bending Effects | En-Hua Ma; 馬恩華 | 電子工程學研究所 |
2011 | 用於減輕掃描鍊位移時電壓降峰值的測試時域最佳化之平行化模擬技術 A Parallel Simulation Technique for Test Clock Domain optimization to Reduce Peak IR Drop During Scan | Yu-Chiuan Huang; 黃鈺筌 | 電子工程學研究所 |
探索
系所
- 4 電子工程學研究所
學位
- 4 碩士
關鍵字
- 1 pattern selection
- 1 pattern selection,small delay defect
- 1 peak ir drop
- 1 peak ir drop,parallel ir-drop sim...
- 1 peak ir drop,parallel ir-drop sim...
- 1 peak ir drop,parallel ir-drop sim...
- 1 spice
- 1 spice,flexible tft circuits
- 1 spice,flexible tft circuits,circu...
- 1 spice,flexible tft circuits,circu...
- 下一頁 >
全文授權
- 4 有償授權
全文
- 4 true