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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2008 | BCH碼之測試結果壓縮診斷技術 Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code | Fang-Min Wang; 王方珉 | 電子工程學研究所 |
2008 | 降低測試功率之可測試設計與最小漏電流向量產生技術 A DfT and Minimum Leakage Pattern Generation Technique for Test Power Reduction | Wei-Chung Kao; 高瑋聰 | 電子工程學研究所 |
2008 | 使用多重擷取時脈高速掃描測試圖樣的轉換錯誤診斷 Transition Fault Diagnosis Using At-Speed Scan Patterns with Multiple Capture Clocks | Shang-Feng Chao; 趙上鋒 | 電子工程學研究所 |
2008 | N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試 Very-Low-Voltage and IDDQ Testing of Amorphous Silicon TFT Digital NMOS Circuits | Shiue-Tsung Shen; 沈學聰 | 電子工程學研究所 |
2008 | 液晶顯示器源極驅動器晶片上升時間以及下降時間測試的可測試性設計 A DfT Technique for Rise Time and Fall Time Testing of LCD Source Driver IC | Chih-He Lin; 林志和 | 電子工程學研究所 |
2008 | 嵌入式矽智財核心之IEEE 1500安全測試封套 Secured IEEE 1500 Test Wrapper for Embedded IP Cores | Geng-Ming Chiu; 邱畊銘 | 電子工程學研究所 |
2008 | 薄膜電晶體液晶顯示器源極驅動IC之輸出偏移電壓可測試設計 A DFT Technique for Output Offset Voltage Testing of TFT-LCD Source Driver IC | Chia-Shao Chen; 陳佳韶 | 電子工程學研究所 |