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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2014 | 針對內部缺陷的時序感知邏輯閘轉態窮舉測試向量選擇 TARGET:Timing-AwaRe Gate Exhaustive Transition Fault Simulation and Test Pattern Selection for Cell-internal Defects | Ang-Feng Lin; 林昂鋒 | 電子工程學研究所 |
2013 | 運用圖形處理器之微小延遲缺陷錯誤模擬與測試向量選擇 Fault Simulation and Test Pattern Selection for Small Delay Defects Using GPU | Sheng-Chang Hsu; 許聖章 | 電子工程學研究所 |
2014 | 利用圖形處理器高品質測試向量產生器 GPU-Based High Quality ATPG | Kuan-Yu Liao; 廖官榆 | 電子工程學研究所 |