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電子工程學研究所
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出版年
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作者
系所
2008
BCH碼之測試結果壓縮診斷技術
Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code
Fang-Min Wang; 王方珉
電子工程學研究所
2008
降低測試功率之可測試設計與最小漏電流向量產生技術
A DfT and Minimum Leakage Pattern Generation Technique for Test Power Reduction
Wei-Chung Kao; 高瑋聰
電子工程學研究所
2008
N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試
Very-Low-Voltage and IDDQ Testing of Amorphous Silicon TFT Digital NMOS Circuits
Shiue-Tsung Shen; 沈學聰
電子工程學研究所
2007
同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法
Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip
Bing-Chuan Bai; 白炳川
電子工程學研究所
2005
行奇偶與列選擇:內建自我測試之多掃描鏈環境下多重錯誤之診斷技術
Column Parity and Row Selection (CPRS): A BIST Diagnosis Technique for Multiple Errors in Multiple Scan Chains
Hung-Mao Lin; 林鴻貿
電子工程學研究所
2009
包含未知訊號之測試結果壓縮設計
Test Response Compaction In The Presence Of Many Unknowns
Wei-Che Wang; 王偉哲
電子工程學研究所
2007
多重掃描鏈時序錯誤診斷
Diagnosis of Multiple Scan Chain Timing Faults
Wei-Shun Chuang; 莊惟舜
電子工程學研究所
2006
跳躍模擬:快速且精確之掃描鏈錯誤診斷技術
Jump Simulation: A Technique for Fast and Precise Scan Chain Fault Diagnosis
Yu-Long Kao; 高玉龍
電子工程學研究所
2006
IEEE 1500標準測試封套產生和驗證及功率預估自動化工具之實現
Implementation of an IEEE 1500 Test Wrapper Generation, Validation and Power Estimation Tool
Po-Lin Wu; 吳柏霖
電子工程學研究所
2005
掃描鏈分割與重排之掃描鏈黏著性錯誤診斷技術
A Scan Chain Partition and Reordering Technique for Scan Chain Stuck-At Fault Diagnosis
Jhih-Kai You; 游智凱
電子工程學研究所
探索
系所
19
電子工程學研究所
學位
19
碩士
作者
1
bing-chuan bai
1
bo-hua chen
1
chia-shao chen
1
chih-he lin
1
chun-yi lee
1
fang-min wang
1
geng-ming chiu
1
hung-mao lin
1
jhih-kai you
1
po-chou lin
.
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關鍵字
3
dft
3
掃描鏈
2
scan chain
2
可測試設計
2
掃描鏈,錯誤診斷
1
amorphous silicon
1
amorphous silicon,thin-film trans...
1
amorphous silicon,thin-film trans...
1
amorphous silicon,thin-film trans...
1
amorphous silicon,thin-film trans...
.
下一頁 >
出版年
2
2009
7
2008
2
2007
3
2006
5
2005
全文授權
19
有償授權
全文
19
true