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電子工程學研究所
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2014
針對內部缺陷的時序感知邏輯閘轉態窮舉測試向量選擇
TARGET:Timing-AwaRe Gate Exhaustive Transition Fault Simulation and Test Pattern Selection for Cell-internal Defects
Ang-Feng Lin; 林昂鋒
電子工程學研究所
探索
系所
1
電子工程學研究所
學位
1
碩士
作者
1
林昂鋒
關鍵字
1
gpu
1
gpu,test selection
1
gpu,test selection,cell-internal ...
1
gpu,test selection,cell-internal ...
1
測試向量自動生產器
1
測試向量自動生產器,邏輯閘內部缺陷
1
測試向量自動生產器,邏輯閘內部缺陷,邏輯閘窮舉轉態
出版年
1
2014
全文授權
1
有償授權
全文
1
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