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電子工程學研究所
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出版年
標題
作者
系所
2019
用於群聚多重轉態延遲錯誤的診斷解析度改善技術
Diagnosis Resolution Improving Technique for Clustered Multiple Transition Delay Faults
Yan-Shen You; 游彥勝
電子工程學研究所
2015
一個0.4伏特單次存取能量消耗4.76微微焦耳11.6百萬赫芝1千位元靜態隨機存取記憶體具有提出的單端存取7個電晶體記憶單元並使用寫入與讀取偵測技術
A 400mV 4.76pJ/Access 11.6MHz 1Kb SRAM with Proposed Single-ended 7T Cell Using Write and Read Detecting Schemes
Po-Kai Hsieh; 謝柏凱
電子工程學研究所
2016
用機器學習預測工程變更命令後的電路壓降
IR Drop Prediction of ECO-Revised Circuits Using Machine Learning
Shih-Yao Lin; 林士堯
電子工程學研究所
2014
考慮電源供應雜訊之動態時序分析器
Power-Supply-Noise-Aware Dynamic Timing Analyzer
Hung-Yi Hsieh; 謝弘毅
電子工程學研究所
2008
BCH碼之測試結果壓縮診斷技術
Test Response Compaction and Diagnosis using BCH code
Fang-Min Wang; 王方珉
電子工程學研究所
2008
降低測試功率之可測試設計與最小漏電流向量產生技術
A DfT and Minimum Leakage Pattern Generation Technique for Test Power Reduction
Wei-Chung Kao; 高瑋聰
電子工程學研究所
2006
CRC:低峰值功率可測試技術設計
Complemented Response Cell (CRC) : A Low Peak Power design for Testability Technique
Bo-Hua Chen; 陳勃樺
電子工程學研究所
2010
用於減輕掃瞄鍊移位時電源供應雜訊峰值的測試時域最佳化
Test Clock Domain Optimization for Peak Power Supply Noise Reduction in Scan Shift Cycles
Jen-Yang Wen; 溫仁揚
電子工程學研究所
2007
同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法
Simultaneous Test Data Volume and Test Application Time Reduction for System-on-Chip
Bing-Chuan Bai; 白炳川
電子工程學研究所
2007
多重掃描鏈時序錯誤診斷
Diagnosis of Multiple Scan Chain Timing Faults
Wei-Shun Chuang; 莊惟舜
電子工程學研究所
探索
系所
59
電子工程學研究所
學位
58
碩士
1
博士
指導教授
2
李建模(chien-mo li | cmli@ntu.edu.tw...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
作者
1
chieh-fu chu
1
chih-he lin
1
chih-yan liu
1
chih-yao hsu
1
chun-yi lee
1
en-hua ma
1
fang-min wang
1
geng-ming chiu
1
hao-tien kan
1
hung-mao lin
.
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關鍵字
5
非同步電路
4
非同步電路,雙軌邏輯
3
asynchronous circuits
3
dft
3
diagnosis
3
gpu
3
power-supply-noise
3
掃描鏈
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計,自動測試圖樣產生器
.
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出版年
7
2020 - 2022
33
2010 - 2019
19
2005 - 2009
全文授權
49
有償授權
5
未授權
3
同意授權(全球公開)
2
同意授權(限校園內公開)
全文
59
true