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電子工程學研究所
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出版年
標題
作者
系所
2005
使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮
A Two-level Test Data Compression and Test Time Reduction Technique for SOC
Yu-Te Liaw; 廖育德
電子工程學研究所
2016
針對造成嚴重電源供應雜訊之元件診斷與修改
Diagnosis and Repair of Cells (DRC) Responsible for Power-Supply-Noise Violations
Yu-Ching Li; 李昱慶
電子工程學研究所
2010
軟性薄膜電晶體數位電路的擺位最佳化
Placement Optimization of Flexible TFT Digital Circuits
Wei-Hsiao Liu; 劉威孝
電子工程學研究所
2013
運用圖形處理器之微小延遲缺陷錯誤模擬與測試向量選擇
Fault Simulation and Test Pattern Selection for Small Delay Defects Using GPU
Sheng-Chang Hsu; 許聖章
電子工程學研究所
2013
針對三維積體電路中電源網路內缺陷穿矽通孔之微小延遲錯誤之測試向量產生
Test Generation of Path Delay Faults Induced by Defect in Power TSV
Chi-Jih Shih; 施啟仁
電子工程學研究所
2016
針對測試壓縮的平行次序自動測試向量產生器
Parallel Order Automatic Test Pattern Generation for Test Compaction
Yu-Wei Chen; 陳佑維
電子工程學研究所
2014
利用圖形處理器高品質測試向量產生器
GPU-Based High Quality ATPG
Kuan-Yu Liao; 廖官榆
電子工程學研究所
2009
快速診斷組合邏輯與掃描鏈橋接錯誤之結構化簡技巧
Structure Reduction Techniques for Fast Logic-Chain Bridging Fault Diagnosis
Wei-Lin Tsai; 蔡維霖
電子工程學研究所
2010
相容於IEEE1500 之系統晶片除錯測試封套
An IEEE 1500 Compatible Test Wrapper for SoC Debug
Jheng-Yang Ciou; 邱証暘
電子工程學研究所
2020
脈衝神經網路晶片之錯誤模型以及測試
Fault Modeling and Testing of Spiking Neural Network Chips
Yi-Zhan Hsieh; 謝宜展
電子工程學研究所
探索
系所
59
電子工程學研究所
學位
58
碩士
1
博士
指導教授
2
李建模(chien-mo li | cmli@ntu.edu.tw...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
1
李建模(chien-mo li),黃俊郎(jiun-lang hu...
作者
1
ang-feng lin
1
bing-chuan bai
1
bo-hua chen
1
chen-hung wu
1
cheng-yu han
1
chi-jih shih
1
chi-lin lee
1
chia-cheng pai
1
chia-shao chen
1
chia-yuan chang
.
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關鍵字
5
非同步電路
4
非同步電路,雙軌邏輯
3
asynchronous circuits
3
dft
3
diagnosis
3
gpu
3
power-supply-noise
3
掃描鏈
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計
3
非同步電路,雙軌邏輯,可測試設計,自動測試圖樣產生器
.
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出版年
7
2020 - 2022
33
2010 - 2019
19
2005 - 2009
全文授權
49
有償授權
5
未授權
3
同意授權(全球公開)
2
同意授權(限校園內公開)
全文
59
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