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光電工程學研究所
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2012
減少非晶相銦鎵鋅氧化物薄膜電晶體之介面以及本體缺陷並改善載子遷移率
Suppression of Interface and Bulk Defects in a-IGZO Thin Film Transistors with Improved Carrier Mobility
Huang-Kai Lin; 林黃凱
光電工程學研究所
探索
系所
1
光電工程學研究所
學位
1
碩士
作者
1
林黃凱
關鍵字
1
a-igzo
1
a-igzo,tft
1
a-igzo,tft,hybrid structure
1
a-igzo,tft,hybrid structure,subth...
1
非晶相銦鎵鋅氧化物
1
非晶相銦鎵鋅氧化物,薄膜電晶體
1
非晶相銦鎵鋅氧化物,薄膜電晶體,混成結構
1
非晶相銦鎵鋅氧化物,薄膜電晶體,混成結構,次臨界擺幅
出版年
1
2012
全文授權
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