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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2017 | 利用四端量測分析單閘極與雙閘極氧化亞錫薄膜電晶體之電性 Characterization of P-Type Single-Gate and Double-Gate Tin Monoxide Thin-Film Transistors Using Gated-Four-Probe Measurements | Chia-Hsun Tsai; 蔡佳勳 | 光電工程學研究所 |