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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2022 | OCT背向散射紋理應用於奈米顆粒尺寸分析 Estimation of Nanoparticle Size by OCT Backscattered Pattern Analysis | An-Ho Huang; 黃安荷 | 光電工程學研究所 |
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系所
- 1 光電工程學研究所
學位
- 1 碩士
關鍵字
- 1 optical coherence tomography
- 1 optical coherence tomography,back...
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- 1 光學同調斷層掃描
- 1 光學同調斷層掃描,背向散射紋理
- 1 光學同調斷層掃描,背向散射紋理,粗糙度量測
- 1 光學同調斷層掃描,背向散射紋理,粗糙度量測,定位精準度
- 1 光學同調斷層掃描,背向散射紋理,粗糙度量測,定位精準度,奈米顆粒粒徑分析
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出版年
- 1 2022
全文授權
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- 1 true