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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
---|---|---|---|
2020 | 使用貝氏訊號機率模型的轉態延遲錯誤測試圖樣產生技術 Transition Delay Fault Test Pattern Generation Using a Bayesian-Based Signal Probability Model | Ching-Hung Cheng; 鄭景鴻 | 電子工程學研究所 |
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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2020 | 使用貝氏訊號機率模型的轉態延遲錯誤測試圖樣產生技術 Transition Delay Fault Test Pattern Generation Using a Bayesian-Based Signal Probability Model | Ching-Hung Cheng; 鄭景鴻 | 電子工程學研究所 |