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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2020 | 用於提升微機電側邊量測精準度之原子力顯微鏡新式掃描方法 Novel Enhancement of Steep Sidewall Scan in AFM for MEMS Inspection | Ching-Chi Huang; 黃靖期 | 電機工程學研究所 |
2018 | 複合原子力顯微鏡與共軛焦雷射掃描顯微鏡之新式掃描 Novel Micro Scanning with Integrated Atomic Force Microscope and Confocal Laser Scanning Microscope | Meng-Hao Chou; 周孟皓 | 電機工程學研究所 |
2014 | 自適傾角演算法於高精確雙探針原子力顯微鏡 Adaptive Tilting Angles to Achieve High-Precision Scanning of a Dual-Probe AFM | Yu-Ting Lo; 羅宇廷 | 電機工程學研究所 |
2014 | 最適傾角之高精確掃描雙探針原子力顯微鏡系統 A Dual Probes AFM System with Effective Tilting Angles to Achieve High-Precision Scanning | Yi-Ting Lin; 林奕廷 | 電機工程學研究所 |
2013 | 光學顯微鏡輔助之大範圍原子力顯微鏡精密正弦式局部掃描 Precision Sinusoidal Local Scan for Large Range Atomic Force Microscopy with Auxiliary Optical Microscopy | Chih-Lieh Chen; 陳志烈 | 電機工程學研究所 |
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系所
- 5 電機工程學研究所
學位
- 5 碩士
關鍵字
- 2 atomic force microscope (afm)
- 2 atomic force microscopy
- 2 原子力顯微鏡,雙探針掃描
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