瀏覽 的方式: 關鍵字 n-detect atpg,multiple detect,pattern quality,search-space partitioning parallel atpg,parallel programming,
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出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
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2017 | 針對改善圖樣品質之平行自動化N次測試圖樣產生方法 A parallel ATPG aiming at improving N-detect pattern quality | Kun-Wei Lin; 林坤緯 | 電子工程學研究所 |