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| 出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
|---|---|---|---|
| 2024 | 矽基量子點中利用門組斷層掃描的隨機電荷雜訊模型 Stochastic Charge Noise Model Characterization in Silicon Quantum Dots By Gate Set Tomography | 邱偉恩; Wei-En Chiu | 物理學系 |
| 出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
|---|---|---|---|
| 2024 | 矽基量子點中利用門組斷層掃描的隨機電荷雜訊模型 Stochastic Charge Noise Model Characterization in Silicon Quantum Dots By Gate Set Tomography | 邱偉恩; Wei-En Chiu | 物理學系 |