瀏覽 的方式： 作者 Vincent Su
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| 出版年 | 標題 | 作者 | 系所 |
|---|---|---|---|
| 2008 | 淺槽隔離引起機械壓力對於奈米級部分解離絕緣體上矽金氧半元件崩潰效應模型分析 Analysis and Modeling of STI-Iduced Mechanical Stress-Related Breakdown Behavior For Nanometer PD-SOI MOS Devices | Vincent Su; 蘇文生 | 電子工程學研究所 |