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NTU Theses and Dissertations Repository
瀏覽 的方式: 作者 李建模
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出版年
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作者
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2019
使用機器學習之晶片效能預測
Chip Performance Prediction Using Machine Learning Techniques
Min-Yan Su; 蘇旻彥
電子工程學研究所
2018
使用機器學習之自動化電路壓降工程修改命令
Automatic IR-Drop ECO Using Machine Learning
Heng-Yi Lin; 林恆毅
電子工程學研究所
2023
使用機器學習進行高速兩向量測試的動態電路壓降預測
Dynamic IR-drop Prediction of At-speed Two-vector Test Using Machine Learning
吳宥璁; Yu-Tsung Wu
電子工程學研究所
2022
使用非破壞性壓力測試預測晶片最小工作電壓
Vmin Prediction Using Nondestructive Stress Test
陳淳; Chun Chen
電子工程學研究所
2023
利用子集關係進行系統性延遲錯誤診斷
Diagnosis of Systematic Delay Failures through Subset Relationship Analysis
謝秉翰; Bing-Han Hsieh
電子工程學研究所
2007
支援全速延遲測試之IEEE 1500標準測試封套設計與驗證測試方法
IEEE 1500 Compatible Test Wrapper Design and Validation for At-Speed Delay Testing
Tsung-Ping Kao; 高琮評
電子工程學研究所
2017
機率電路測試圖樣壓縮
Test Pattern Compression for Probabilistic Circuit
Chih-Ming Chang; 張志銘
電子工程學研究所
2013
用於降低平均電壓降之測試向量修改
Test Pattern Modification for Average IR-drop Reduction
Wei-Sheng Ding; 丁瑋陞
電子工程學研究所
2024
神經形態晶片的低複雜度演算法測試生成
Low-Complexity Algorithmic Test Generation for Neuromorphic Chips
黃旭鈺; Hsu-Yu Huang
電子工程學研究所
2023
神經形態晶片的測試壓縮
Test Compression for Neuromorphic Chips
陳心屏; Xin-Ping Chen
電子工程學研究所
2011
考慮光學之實體層系統性短路缺陷診斷
Lithography-aware Bridging Fault Diagnosis to Identify the Layer of Systematic Defects
Wei-Li Hsu; 徐偉力
電子工程學研究所
2013
考慮實體資訊多重缺陷診斷
Multiple Defect Physical-aware Diagnosis
Chieh-Chih Che; 車介智
電子工程學研究所
2022
診斷雙重故障掃描鏈透過錯誤位元分離
Diagnosing Double Faulty Chains through Failing Bit Separation
郭承賢; Cheng-Sian Kuo
電子工程學研究所
2012
軟性薄膜電晶體類比電路的良率最佳化
Yield Optimization of Flexible TFT Analog Circuits
Wen-En Wei; 魏文恩
電子工程學研究所
2012
針對三維積體電路中穿矽通孔所造成之微小延遲錯誤之測試技術
Testing of TSV-induced Small Delay Faults for Three Dimensional Integrated Circuits
Chun-Yi Kuo; 郭俊儀
電子工程學研究所
2014
針對先進製程中系統性缺陷以及微小延遲缺陷並考慮實體及時序資訊之診斷技術
Physical-aware and Timing-aware Diagnosis for Systematic Defects and Small Delay Defects in Advanced Technology
Po-Juei Chen; 陳柏瑞
電子工程學研究所
2024
針對時序工程修改命令的快速準確動態電壓降預測
Fast and Accurate Dynamic IR-drop Prediction For Timing ECO
謝兆和; Chao-Ho Hsieh
電子工程學研究所
2019
針對機率電路之高效率且低誤宰測試
High Efficiency and Low Overkill Testing for Probabilistic Circuits
Ming-Ting Lee; 李明庭
電子工程學研究所
2023
針對自動產生之測試圖樣的高速且低儲存空間之功率與溫度預測
High-Speed, Low-Storage Power and Thermal Predictions for ATPG Test Patterns
梁哲嘉; Zhe-Jia Liang
電子工程學研究所