Skip navigation
DSpace
機構典藏 DSpace 系統致力於保存各式數位資料(如:文字、圖片、PDF)並使其易於取用。
點此認識 DSpace
English
中文
瀏覽論文
校院系所
出版年
作者
標題
關鍵字
搜尋 TDR
授權 Q&A
幫助
我的頁面
接受 E-mail 通知
編輯個人資料
NTU Theses and Dissertations Repository
瀏覽 的方式: 作者 劉致為(Chee Wee Liu)
跳到:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
或是輸入前幾個字:
排序方式:
標題
出版年
排序方式:
升冪排序
降冪排序
結果/頁面
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
作者/紀錄:
全部
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
顯示 21 到 28 筆資料,總共 28 筆
< 上一頁
出版年
標題
作者
系所
2013
鍺鈍化層介面抓陷之探討以及矽晶穿孔結構損耗分析
The Investigation of Interface Trap of Ge Based Passivation Layer and the Loss Analysis of Through Silicon Via Structure
Shih-Jan Luo; 羅士展
電子工程學研究所
2019
鍺錫P型無接面堆疊環繞式閘極場效電晶體之光響應與光學相位陣列光達
Optical Response of Stacked GeSn Junctionless p-channel Gate-all-around FETs and Optical Phased Array LiDAR
Hsiao-Hsuan Liu; 劉孝萱
電子工程學研究所
2018
鍺錫P型通道與鍺矽N型通道堆疊環繞式閘極場效應電晶體之製備
Fabrication of Stacked GeSn p-Channel and GeSi n-Channel Gate-All-Around FETs
Wen-Hung Huang; 黃文宏
電子工程學研究所
2017
雷射熱退火與光電元件之模擬
Simulation of Laser Annealing Process and Photonic Devices
Chun-Ti Lu; 魯珺地
光電工程學研究所
2019
非晶相銦鎵鋅氧化物薄膜電晶體之材料分析、電性分析及可靠度測試
Material Analysis, Electrical Characterization, and Reliability Test of Amorphous InGaZnO Thin Film Transistors
An-Hung Tai; 戴安閎
電子工程學研究所
2013
非晶相銦鎵鋅氧化物薄膜電晶體之電性分析與以深埋氧化層電荷改善短通道效應之超薄體金氧半電晶體
Electrical Characteristics of Amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin-Film Transistors and Enhanced Ultra-Thin-Body MOSFETs by Charged Buried Oxide
Hsuan-Yi Lin; 林軒毅
電子工程學研究所
2006
高介電材料光電特性
Optical and Electrical Propterties of High-k Dielectric Materials
Tze-Chiang Chen; 陳自強
電子工程學研究所
2016
高載子遷移率及穩定度改善之非晶相銦鎵鋅氧化物薄膜電晶體
High Mobility and Enhanced Reliability Amorphous Indium-Gallium-Zinc Oxide Thin-Film Transistors
Chieh Lo; 羅傑
電子工程學研究所